HunterLab太陽能薄膜測色儀——UltraScan PRO，2nm檢測，5nm報告，波長范圍350-1050nm，可測太陽能薄膜的反射及透射的色度黃度和率濁度等。可用于太陽能板材的顏色品質(zhì)管理與老化實驗。

 
HunterLab太陽能薄膜測色儀優(yōu)點
 
*符合CIE D65光源包括紫外及可見光譜要求而設(shè)計的高階色度分光儀。  
*依據(jù)CIE N?51 （TC-1.3） 及ASTM E991設(shè)計。  
*通過CIE Rating Test評審為AB 級別的分光儀。  
高精度，高分析度，5nm光譜數(shù)據(jù)報告。  
350-1050nm超寬測量光譜范圍，用戶可根據(jù)需要選擇光譜測量范圍。  
近紅外測試，滿足特殊產(chǎn)品的測試，如迷彩服，紅外變色材料等。  
采用高密度，窄帶光柵分光。  
采用多點光電偵測儀器提高分光精度，分析度達到1.37nm.  
光源產(chǎn)生適量紫外光相對分布能量以排除過高熒光激發(fā)效應，只需400nm濾光片。  
積分球涂上特殊涂層排除因時間引致黃變老化。  
操作簡易，高長期穩(wěn)定性。  
 
 
CMR提供按客戶需要的可選項：
 
用來測量非固體樣品如粉末，球體，顆粒，糊料等用的反射架。  
為散纖維提供重復測量的散纖維夾。  
薄膜，玻璃或塑料透射測量定位透射夾。  
提供連續(xù)測量的液體流動比色皿。  
多種依客戶要求定做的樣品夾具。  
 
 
UltraScan Pro 測色儀功能
 
雙光束d/8?光學幾何設(shè)計， 置有自動切換鏡面反射扣除部件。  
15.2cm （6"）, Spectraflect 特殊涂料積分球。  
氙燈過濾模擬標準CIE D65光源.  
350-1050nm超寬測量光譜范圍，5nm波長報告間隔。  
衍射光柵分光，512個半導體檢測點  
有效等三角波長帶寬為5nm.  
波長分析度小于2nm（1.37nm）  
波長精度0.1nm.  
測量光度范圍為0至200%。  
測量光度分析度為0.003% （0.01%顯示）。  
測量時間不超過2秒。  
測量面積有19mm（LAV）,9mm（MAV）,4mm（SAV）測量孔徑選擇。  
小面積樣品觀察燈反光鏡。  
三邊開啟大透射測量空間，可放80mm長的透射路徑比色皿。  
機頂置有檢測鍵方便啟動樣本測量工作。  
簡明易見的模式設(shè)定狀態(tài)指示燈。  
USB或RS232C連接界面。  
可配HunterLab的EasyMatch-QC質(zhì)檢及EasyMatch-Coatings涂料配色軟件包。  
操作電壓，100-240VAC, 47-63Hz.  
操作溫度， 10-40?C.  
儲藏溫度，-20 – 70?C  
相對濕度，10-90%（無冷藏）。